USB 系统设备ESD问题

commspec

便携式产品的USB打静电，很难通过，还有金属外壳的产品也是不容易通过静电测试，所以今天在这里随便说两句。 首先谈谈金属外壳，为什么不容易过静电测试呢？因为很多客户在设计初期没有将外壳与里面的电路隔开，所以在打静电时，静电通过外壳向里面的电子元器件拉弧，造成产品宕机或重启，另外，静电产生的同时，会伴有一个1-500M的电磁场，也就是说同时产生了电磁辐射，这就涉及到产品的EMC设计，问题就变得复杂了，所以如果采用金属外壳时，在内层最好能喷一层绝缘漆来隔离静电。如果PCB板的GND设计足够好，那就将外壳多点接GND，让静电直接导入到地上面，减少对其他电路的危害。 再说下USB，打USB静电有问题，最大的原因是USB的铁质外壳没有良好的接地，或者是接地面积不够大，静电无法完全在GND上面均和，从而对其他信号产生窜扰。如果USB的数据线没有加ESD保护期间的话，此时就肯定会出现读取出错或死机。所以在USB的设计上一定要多花点心思，尽量将该处的地面积加大，信号线做好保护，把产品一次性做成功。

[ 本帖最后由 commspec 于 2010-3-23 12:42 编辑 ]